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產品詳細頁
王子計測超高位相差測定裝置

王子計測超高位相差測定裝置

產品介紹

王子計測超高位相差測定裝置

PAM-UHR100

特點

① 1nm寬測量范圍

② 高重復精度±1nm

③ 良好的可操作性

④ 軟件

 

測定對象:

位相差薄膜,塑料,偏振片

光盤

液晶組件

磁帶用膠片

收縮薄膜

其他一般用途膠片

 

用途:

光學功能膠片的研究開發,質量管理

延伸膠片的定向評價(三維折射率,表面定向度)

包裝膜的熱收縮、撕脫性等的評價

液晶元件的雙絞線波長色散特性評估

光學器件的透射橢圓偏振光的評價

 

 

王子計測PAM-UHR100超高位相差測定裝置

技術參數

仕様

內容

測定対象

透明な延伸フィルム(PC,PET等)

測定項目

位相差、配向角、複屈折 (位相差範囲 約800~20000nm)

試料寸法

□40mm 厚み3mm以下

システム構成

測定裝置本體、ノートパソコン(OS:Windows 7 / Vista / XP)

溫濕度條件

10~35℃、20~80%RH(ただし結露しないこと)

電源

AC100V±10%、50/60Hz

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